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X光鍍層測(cè)厚儀在日常使用中有優(yōu)勢(shì)
點(diǎn)擊次數(shù)：1392 更新時(shí)間：2020-07-23
X光鍍層測(cè)厚儀是專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的鍍層膜厚測(cè)試儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
可應(yīng)用于：
合金分析；鍍層厚度分析；電鍍液金屬離子分析；磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體元素分析；土壤污染元素分析；過濾器上的薄膜元素分析；塑料中的有毒元素分析。
X光鍍層測(cè)厚儀的性能優(yōu)勢(shì)：
1、Du創(chuàng)的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件，可不用標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)定，即對(duì)樣品鍍層膜厚進(jìn)行J準(zhǔn)測(cè)試。
2、除可對(duì)金屬鍍層測(cè)試外，還可對(duì)合金鍍層、鋁合金鍍層、玻璃鍍層、塑料鍍層進(jìn)行測(cè)量，開創(chuàng)了XRF對(duì)鍍層測(cè)厚的全面技術(shù)。
3、軟件可根據(jù)樣品材質(zhì)、形狀和大小自動(dòng)設(shè)定光管功率，既能延長光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測(cè)器性能，大幅提高測(cè)量精度。
4、業(yè)內(nèi)提供開放式工作曲線標(biāo)定平臺(tái),可為每家用戶量身定做的鍍層分析工作曲線。
5、三重射線防護(hù)，確保操作人員人身安全與意外操作帶來的輻射傷害。
6、儀器外部對(duì)樣品微調(diào)設(shè)計(jì)，降低及防止樣品放置好后關(guān)閉樣品蓋產(chǎn)生振動(dòng)而使測(cè)試位置發(fā)生變化導(dǎo)致的測(cè)試不準(zhǔn)確性。
7、可根據(jù)用戶要求自行定制測(cè)試報(bào)告輸出格式，符合工廠多種統(tǒng)計(jì)及格式要求。
8、業(yè)內(nèi)家對(duì)達(dá)克羅涂覆工藝厚度分析的軟件方法，*取代金相顯微鏡技術(shù)在該行業(yè)的應(yīng)用。
9、軟件對(duì)多次測(cè)試結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析功能。
10、業(yè)內(nèi)家既可以測(cè)試鍍層厚度，又可以同時(shí)分析基材及鍍層成分的XRF。
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