X射線銅上鍍銀測(cè)厚儀的詳細(xì)資料：

X射線銅上鍍銀測(cè)厚儀:測(cè)量范圍0.1-50um

韓國(guó)Micro Pioneer(先鋒)X射線鍍層測(cè)厚儀

XRF-2000鍍層測(cè)厚儀共分三種型號(hào)

不同型號(hào)各種功能一樣

機(jī)箱容納樣品大小有以下不同要求

XRF-2000鍍層測(cè)厚儀型號(hào)介紹

XRF-2000鍍層測(cè)厚儀H型:測(cè)量樣品高度不超過10cm

XRF-2000電鍍測(cè)厚儀L型:測(cè)量樣品高度不超過3cm

XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測(cè)量樣品高度不超3cm(開放式設(shè)計(jì),可檢測(cè)大型樣品

韓國(guó)先鋒XRF-2000鍍層測(cè)厚儀

檢測(cè)電子及五金電鍍,化學(xué)電鍍層厚度

主要檢測(cè):鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅,鍍錫,及各種合金鍍層等

韓國(guó)XRF2000鍍層測(cè)厚儀

全自動(dòng)臺(tái)面

自動(dòng)雷射對(duì)焦

多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測(cè)樣品）

測(cè)量樣品高度3cm以內(nèi)或10cm

鍍層厚度測(cè)試范圍：0.03－35um

可測(cè)試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度

X射線銅上鍍銀測(cè)厚儀:測(cè)量范圍0.1-50um

可測(cè)銅上鍍銀,鋁上鍍鎳鍍銅鍍銀,銅上鍍鎳鍍銀等

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