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產(chǎn)品名稱：X熒光鍍層測(cè)厚儀,電鍍鍍層測(cè)厚儀
產(chǎn)品型號(hào)：
產(chǎn)品報(bào)價(jià)：
產(chǎn)品特點(diǎn)：韓國(guó)Micro PioneerXRF-2000 韓國(guó)XRF-2000金屬鍍層測(cè)厚儀檢測(cè)電子電鍍,PCB板電鍍,化學(xué)鍍,,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍銀,鍍鈀...可測(cè)單層,雙層,多層,合金鍍層,測(cè)量范圍:0.04-35um儀X熒光鍍層測(cè)厚儀,電鍍鍍層測(cè)厚儀
X熒光鍍層測(cè)厚儀,電鍍鍍層測(cè)厚儀的詳細(xì)資料：
韓國(guó)XRF-2000金屬鍍層測(cè)厚儀
原產(chǎn)地 : 韓國(guó)
儀器功能 : 測(cè)量電鍍層厚度
檢測(cè)電子電鍍,化學(xué)鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...
可測(cè)單層,雙層,多層,合金鍍層,
測(cè)量范圍:0.04-35um
測(cè)量精度:±5%,測(cè)量時(shí)間只需30秒便可準(zhǔn)確知道鍍層厚度
全自動(dòng)臺(tái)面,自動(dòng)雷射對(duì)焦，操作非常方便簡(jiǎn)單
系統(tǒng)結(jié)構(gòu) :
主機(jī)箱,專用分析電腦,彩色液晶顯示屏,彩色打印機(jī)
主機(jī)尺寸
610 x 670 x 600 mm(訂制加高型主機(jī)箱高度超過(guò)600mm)
主機(jī)箱重量 : 約75 公斤
配件重量 : 約 35 公斤
樣品臺(tái)承重:5KG
以滑鼠移動(dòng)方式,驅(qū)動(dòng) XYZ 三軸移動(dòng),步進(jìn)馬達(dá)
XYZ 樣片臺(tái)移動(dòng)尺寸
200 x 150 x 100 mm
準(zhǔn)直器一個(gè)可選0.1, 0.2, 0.3, 0.4, 0.05*0.4mm
軟件包括 視察軟件,
系統(tǒng)軟件包括,測(cè)量,統(tǒng)計(jì)
系統(tǒng)功能
可測(cè)單層,雙層或多層或合金層電鍍厚度
標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格
自動(dòng)雷射對(duì)焦,XYZ全自動(dòng)XYZ樣片臺(tái),自動(dòng)調(diào)整檔案功能,電鍍藥液測(cè)量.元素配對(duì).
主機(jī)箱:
輸入電壓力:AC220V± 10% 50/60HZ
溝通方法:RS-232C
溫度控制:前置放大及機(jī)箱溫度控制
對(duì)焦:雷射對(duì)焦
安全裝置:如測(cè)量中機(jī)箱門打開(kāi),X射線0.5秒內(nèi)自動(dòng)關(guān)閉
表面泄漏:少于1usv
多通道分析
通道數(shù)量:1024ch
脈沖處理:微電腦高速處理器
X射線源
X射線管:油冷
高壓:0-50KV(程控)
管電流0-1mA(程控)
目標(biāo)杷:W靶
校正及應(yīng)用:單鍍層,雙鍍層,合金鍍層,標(biāo)準(zhǔn)樣品再校正
2D,3D隨機(jī)位置測(cè)量
2D:均距表面測(cè)量
3D:表面排列處理測(cè)量
隨機(jī)位置:任意設(shè)定測(cè)量點(diǎn)
檢測(cè)器:正比計(jì)數(shù)器
檢測(cè)器濾片:CO或Ni(選項(xiàng))
X-Y-Z三軸樣品臺(tái)
操作模式:高速精密馬達(dá),可控制加減速度
2D,3D隨機(jī)定位,鼠標(biāo)定定,樣品臺(tái)視窗控制,程控定位
機(jī)箱門打開(kāi)關(guān)閉Y軸自動(dòng)感應(yīng)
統(tǒng)計(jì)功能:打印報(bào)告可顯示zui大/zui小值,位移,平均值,標(biāo)準(zhǔn)差,測(cè)量位置圖片顯示及Bar圖表等
多種測(cè)量報(bào)表模式可選(可插入公司標(biāo)志及客戶名稱)
定性分析:
原素頻譜顯示,ROI距離定性分析,標(biāo)簽圖案顯示
指標(biāo)顯示:顯示原素及測(cè)量數(shù)值,顯示ROI彩色圖
放大功能:局部放大,平均功能:柔和顯法頻譜
視窗大小:無(wú)級(jí)別式視窗大小.
檢測(cè)電子及五金電鍍,化學(xué)電鍍層厚度
主要檢測(cè):鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅,鍍錫,及各種合金鍍層等
韓國(guó)先鋒X射線鍍層測(cè)厚儀
全自動(dòng)臺(tái)面
自動(dòng)雷射對(duì)焦
多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測(cè)樣品）
測(cè)量樣品高度不超過(guò)3cm(亦有10CM可選)
特別訂制可測(cè)20cm以內(nèi)高度產(chǎn)品
鍍層厚度測(cè)試范圍：0.03－35um
可測(cè)試單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層厚度
測(cè)量時(shí)間：10－30秒
精度控制：
*層：±5%以內(nèi)
第二層：±8%以內(nèi)
第三層：±12%以內(nèi)
韓國(guó)先鋒XRF2000鍍層測(cè)厚儀
XRF-2000鍍層測(cè)厚儀共分三種型號(hào)
不同型號(hào)各種功能一樣
機(jī)箱容納樣品大小有以下不同要求
XRF-2000鍍層測(cè)厚儀型號(hào)介紹
XRF-2000鍍層測(cè)厚儀H型:測(cè)量樣品高度不超過(guò)10cm
XRF-2000電鍍測(cè)厚儀L型:測(cè)量樣品高度不超過(guò)3cm
XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測(cè)量樣品高度不超3cm(開(kāi)放式設(shè)計(jì),可檢測(cè)大型樣品
檢測(cè)電子電鍍,化學(xué)鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...
| 如果你對(duì)X熒光鍍層測(cè)厚儀,電鍍鍍層測(cè)厚儀感興趣，想了解更詳細(xì)的產(chǎn)品信息，填寫下表直接與廠家聯(lián)系： |
