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產(chǎn)品名稱：X射線鍍層測厚儀應用
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品報價：
產(chǎn)品特點：韓國XRF-2000X射線鍍層測厚儀功能自動雷射對焦多點自動測量 （方便操作人員準確快捷檢測樣品）測量樣品高度不超過4cm（亦有10CM可選）鍍層厚度測試范圍：0.04－35um
X射線鍍層測厚儀應用的詳細資料：
韓國XRF-2000X射線鍍層測厚儀功能
1. 可測綠油厚度(在 Cu 或其他金屬中).方法是客戶自行準備二片不同厚度的板.先用其他方法把綠油厚度測出來.然後用此二片板做一檔案即可.誤差約15%.視乎不同厚度有所不同.
2. 可測板來料 Cu 厚度(選購件).會另配一探頭於機上.可測 0.5oz 至 4.0oz Cu 厚度. 誤差約5%.視乎不同厚度有所不同.
3. 可測溶液濃度(選購件).方法是先用 AA 機測溶液濃度.然後用此溶液做檔案即可.誤差約10%(視乎不同濃度有所不同).
4. XRF2000 可測六層.誤差大約如下:*層(5%).第二層(10%).第三層(15%).第四層(20%).第五層(25%).第六層為底材.誤差視乎不同原素不同厚度有所不同.
以下是一些應用參考.
XRF2000 可測範圍
Au 0.5-120uinch. Ni 10-400uinch.
Au 0.5-120uinch. Ni-P 10-400uinch
Sn 100% 40-3500uinch. Sn 60% 40-1500uinch. Sn 90% 40-2000uinch
Au 0.5-320uinch
Sn 10-350uinch. Ni 10-500uinch
Sn 40-2500uinch
韓國先鋒XRF2000鍍層測厚儀
檢測電子及五金電鍍,化學電鍍層厚度
主要檢測:鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅,鍍錫,及各種合金鍍層等
韓國XRF2000鍍層測厚儀
全自動臺面
自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品）
測量樣品高度不超過3cm(亦有10CM可選)
鍍層厚度測試范圍：0.03－35um
可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度
(單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等)
(雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再銀,銅上鍍鎳再鍍鉻等)
多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳,再鍍金等)
合金鍍層:如鐵上鍍錫銅等，底材不限，雙層及多層厚度各自分開顯示．
測量時間：10－30秒
精度控制：
*層：±5%以內(nèi)
第二層：±8%以內(nèi)
第三層：±12%以內(nèi)
韓國XRF-2000X射線鍍層測厚儀功能
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