產(chǎn)品展示
天津X射線線電鍍層測(cè)厚儀的詳細(xì)資料:
X-射線測(cè)厚儀XRF-2000鍍層測(cè)厚儀
1、測(cè)量電鍍層厚度范圍為0.02um-35um。
韓國(guó)XRF-2000X光鍍層測(cè)厚儀
測(cè)量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍錫,鍍鈀等
可測(cè)單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層等。

產(chǎn)品功能:
1. 采用X射線熒光光譜法無損測(cè)量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材!
1. 鍍層元素范圍:鈦~鈾,包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、金,鉻,鋅鎳合金等。
2. 鍍層層數(shù):可測(cè)5層。
3. 測(cè)量產(chǎn)品位置尺寸:標(biāo)準(zhǔn)配備0.2mm準(zhǔn)直器,測(cè)量產(chǎn)品大于0.4mm(可訂制更小準(zhǔn)直器)
4. 測(cè)量時(shí)間:通常15秒。
5. H型號(hào)機(jī)箱容納樣品尺寸:550 x 550 x 100 mm (長(zhǎng)x寬x高)。
6 L型號(hào)機(jī)箱容納樣品尺寸:550 x 550 x 30 mm (長(zhǎng)x寬x高)。
7. 測(cè)量誤差:通常小于5%,視樣品具體情況而定。
8. 可測(cè)厚度范圍:通常0.01微米到60微米,視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。
天津X射線線電鍍層測(cè)厚儀
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