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產(chǎn)品名稱：銅上鍍錫X-RAY膜厚測試儀
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品報價：
產(chǎn)品特點：X-RAY膜厚儀型號韓國XRF-2020系列品牌： 微先鋒Micro Pioneer貨號：XRF-2020系列測厚儀銅上鍍錫X-RAY膜厚測試儀:測試范圍：0.1-50um
銅上鍍錫X-RAY膜厚測試儀的詳細資料：
銅上鍍錫X-RAY膜厚測試儀:測試范圍：0.1-50um
X-RAY膜厚儀型號韓國XRF-2020系列
品牌：Micro Pioneer
儀器功能及應用：
檢測電鍍與化學鍍層：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等
可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量，不限底料。
X-RAY膜厚儀型號韓國XRF-2020系列測厚儀?檢測范圍
Au 0.03-6um
Pd 0.03-6um
Ni 0.5-30um
Ni-P 0.5-30um
Sn 0.3-50um
Ag 0.1-50um
Cr 0.5-30um
Zn 0.5-30um
ZnNi 0.5-30um
SnCu 0.5-30um
X-RAY膜厚儀型號韓國XRF-2020系列?測厚儀精度控制：
*層：±5%
第二層：±8%
第三層：±15%
X-RAY膜厚測試儀韓國XRF-2020系列
測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等
測量的厚度范圍為0.03微米～35微米。
可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量，不限底料。
X-RAY膜厚儀型號韓國XRF-2020系列測厚儀三款型號
不同型號各種功能相同
機箱容納樣品大小有以下不同要求
XRF-2020N型:測量樣品高度不超過25cm (長20寬18cm)
XRF-2020H型:測量樣品高度不超過12cm (長20寬17cm)
XRF-2020L型:測量樣品高度不超過3cm （長20寬19cm）
XRF-2020PCB型:測量樣品高度不超3cm,PCB板
X-RAY膜厚儀型號韓國XRF-2020系列
儀設備功能描述
兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)
使用X熒光射線非接觸非破壞快速測量膜厚層
各種樣品單層至多層（5層），合金膜層均可測量
定點自動定位分析
光徑對準全自動
影像重疊功能
自動顯示測量參數(shù)
彩色區(qū)別測量數(shù)據(jù)
X-RAY膜厚儀型號韓國XRF-2020系列測厚儀多重統(tǒng)計顯示視窗與報告編輯
應用2D/3D，任意位置測量控制Y軸全自動控制雷射對焦與自動定位系統(tǒng)
多種機型選擇X-ray運行待命（睡眠）控制溫控穩(wěn)定延長校準時效全進口美日系零件價格優(yōu)勢及快速的服務時效
X-RAY膜厚儀型號韓國XRF-2020系列
品牌： 微先鋒Micro Pioneer
貨號：XRF-2020系列測厚儀
品名：X-RAY膜厚儀
銅上鍍錫X-RAY膜厚測試儀:測試范圍：0.1-50um
| 如果你對銅上鍍錫X-RAY膜厚測試儀感興趣，想了解更詳細的產(chǎn)品信息，填寫下表直接與廠家聯(lián)系： |
