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產品名稱：X射線厚儀標準片校正片
產品型號：
產品報價：
產品特點：X光測厚儀標準片,X光鍍層測厚儀校準片微先鋒XRF-2000測厚儀標準片校正片X射線厚儀標準片校正片用于檢測電鍍層測厚儀數據是否準確
X射線厚儀標準片校正片的詳細資料：
X射線厚儀標準片校正片
金,鎳，銅，鋅,鉻，銀,鋅鎳合金：各鍍種標片及范圍通用于所有品牌測厚儀
適合各種X射線鍍層測厚儀
使用可靠的參考標準塊校準儀器。最后的測量不確定度直接取決于校準標準塊的測量不確定度和測量精度。
X射線厚儀標準片校正片參考標準塊應具有的已知單位面積質量或厚度的均勻的覆蓋層，如果是合金，則應知其組成。參考標準塊的有效或限定表面的任何位置的覆蓋層不能超過規(guī)定值的±5%.只要用于相同的組成和同樣或已知密度的覆蓋層，規(guī)定以厚度為單位（而不是單位面積質量）的標準塊，將是可靠的。合金組成的測定，校準標準不需要相同，但應當已知。
金屬箔標準片。如果使用金屬箔貼在特殊基體表面作標準片，就必須注意確保接觸清潔，無皺折紐結。任何密度差異，除非測量允許，否則必須進行補償后再測。
X射線厚儀標準片校正片?的選擇
可用標準塊的單位面積厚度單位校準儀器，厚度值必須伴隨著覆蓋層材料的密度來校正。標準片應與被測試樣具有相同的覆蓋層和基體材料，但對試樣基材為合金成分的，有些儀器軟件允許標樣基材可與被測試樣基材不同，但前提是標準塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。
X射線厚儀標準片校正片?特性及使用
校正標準塊的覆蓋層應與被測覆蓋層具有相同的X射線發(fā)射（或吸收）特性。
如果厚度由X射線吸收方法或比率方法確定，則厚度標準塊的基體應與被測試樣的基體具有相同的X射線發(fā)射特性，通過比較被測試樣與校正參考標準塊的未鍍基體所選的特征輻射的強度，然后通過軟件達到對儀器的校正。
X射線厚儀標準片校正片，專業(yè)用于X射線測厚儀
膜厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。以此標準曲線來測量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。
X射線厚儀標準片校正片：金,鎳，銅，鋅,鉻，銀,鋅鎳合金：各鍍種標片及范圍通用于所有品牌測厚儀
標準片均附帶標準證書
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層厚度測試儀,電鍍測厚儀,鍍層膜厚儀
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