產(chǎn)品目錄

X光鍍層測厚儀
- X熒光鍍層測厚儀

產(chǎn)品展示

當前位置：首頁 > 產(chǎn)品展示 > > X光鍍層測厚儀 > Micropioneer微先鋒XRF-2020測厚儀膜厚儀

點擊放大

產(chǎn)品名稱：Micropioneer微先鋒XRF-2020測厚儀膜厚儀

產(chǎn)品型號：

產(chǎn)品報價：

產(chǎn)品特點：Micropioneer微先鋒XRF-2020測厚儀膜厚儀
檢測電子電鍍,化學電鍍層厚度,
測量鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鋅鎳,鍍錫...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層
東莞鍍層測厚儀微先鋒XRF-2020膜厚測試儀

Micropioneer微先鋒XRF-2020測厚儀膜厚儀的詳細資料：

Micropioneer微先鋒XRF-2020測厚儀膜厚儀

測量電鍍層厚度

儀器規(guī)格

XRF-2020L型:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg

XRF-2020H型:測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg

儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量

多個準直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換

Micropioneer微先鋒XRF-2020測厚儀膜厚儀

快速無損測量鍍金，鍍銀，鍍錫，鍍銀，鍍鎳，鍍銅，鍍鋅鎳合金等！

測量原理：

物質經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。

　如果你對Micropioneer微先鋒XRF-2020測厚儀膜厚儀感興趣，想了解更詳細的產(chǎn)品信息，填寫下表直接與廠家聯(lián)系：

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細地址：
補充說明：
驗證碼：

請輸入計算結果（填寫阿拉伯數(shù)字），如：三加四=7

Micropioneer微先鋒XRF-2020測厚儀膜厚儀的詳細資料：

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：