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X光鍍層測厚儀
- X熒光鍍層測厚儀

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產(chǎn)品名稱：XRF-2020L測厚儀韓國XRF-2000L

產(chǎn)品型號：

產(chǎn)品報價：

產(chǎn)品特點：電鍍測厚儀XRF-2020膜厚測試儀
檢測電子電鍍,化學(xué)電鍍層厚度,
測量鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鋅鎳,鍍錫...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層
XRF-2020L測厚儀韓國XRF-2000L

XRF-2020L測厚儀韓國XRF-2000L的詳細資料：

XRF-2020L測厚儀韓國XRF-2000L

XRF-2020膜厚測試儀

測量電鍍層厚度

儀器規(guī)格

XRF-2020L型:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg

XRF-2020H型:測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg

儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量

多個準直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換

Microp XRF-2020測厚儀(韓國微先鋒）

快速無損測量鍍金，鍍銀，鍍錫，鍍銀，鍍鎳，鍍銅，鍍鋅鎳合金等！

測量原理：

物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。

XRF-2020L測厚儀韓國XRF-2000L

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